LDOやREFのD/SにはRRR(リップル除去比)、ラインレギュレーションなどが記載されていますが、具体的にはどう違うのでしょうか？
●RRR⇒交流波形を電源電圧に重畳させ、この波形が出力に現れる電圧と入力電圧との比を測定。

●ラインレギュレーション⇒入力の変化に対する出力の変動。

と理解していますが、両方とも入力の変動に対する出力変化の割合を示すものかと思います。

入力そのものの変化とノイズの重畳という違いだけなのでしょうか？
それとも、AC的な変化とDCに近い変化という違いなのでしょうか？
例えば入力電圧が60Hzで0.5Vpp変化してしまう（あまりないと思いますけど）という場合、どちらのスペックを基準に考えれば良いでしょうか？

（基本的な考え方が間違ってたら申し訳ありません。）

PNP-NPNさん、dongdongさん、回答ありがとうございました。

リニアＩＣテスターの中では、リップル・リジェクションとライン・レギュレーション刃、次のように測定しています。3端子レギュレータなどでは、リップル測定の場合の周波数は、120Hzを使うことが条件として多いようです。いずれにしてもリップル・リジェクションは周波数が上がれば、それにつれてロールオフしてゆき、性能が低下してゆきます。レギュレータの入力電圧（DC）にこの120Hzのリップルを足し算して加えます。入力のアンプをコントロールするOPアンプを加算器の構成にして、オシレータ信号を加算します。この時の出力を測定するのですが、この時はDCカットしてAC成分の漏れを測定しその比を計算します。負荷はプログラマブル電流源を用い、定電流で負荷を引きます。ライン・レギュレーションの場合は、入力をスペック条件の最大値と最少値に変化させ、その時の出力（DC出力）の変化量を測定します。負荷はやはりプログラマブル定電流源あるいはプログラマブル・パルスロードなどで引いておきます。
　この測定方法によれば、リップル・リジェクションは、DC成分を取り除いて出力を測定するのでACのみの入出力洩れに関するスペック、ライン･レギュレーションは逆にDCのみの洩れに関するスペックということになります。

> それとも、AC的な変化とDCに近い変化という違いなのでしょうか？
そうゆうことです．
入力電圧のダイナミックな変動に対する出力電圧の変動を表すのがRRRで，入力電圧のスタティックな変化に対する出力電圧の変化を表すのがラインレギュレーションです．

> 例えば入力電圧が60Hzで0.5Vpp変化してしまう（あまりないと思いますけど）という場合、
> どちらのスペックを基準に考えれば良いでしょうか？
ダイナミックな変動ですから，RRRです．